Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法 | |
金光; 钟兴; 魏秀东
| |
| 2010-04-20 | |
| 发表期刊 | 光电工程
 |
| ISSN | 1003-501X |
| 卷号 | 37期号:4页码:83-87 |
| 摘要 | 针对TMC(三镜卡塞格林)光学系统凹椭球面主镜的检验,本文提出了一种平板补偿的自准检验方法。该方法克服了OFFENER零位补偿器本身性能难以检验,只能靠加工和装调保证精度的问题。针对TMC主镜面形与抛物面接近的特点,对平板补偿的自准检验方案进行了理论分析,利用二次非球面的法线像差性质推导了检验光路中球差的表达式,并利用最小剩余球差进行补偿平板参数的确定。对某TMC系统顶点曲率1589mm,二次系数-0.983,口径Φ500mm的主镜检验,设计了尺寸仅为Φ34.2mm×9.1265mm的补偿平板。在ZEMAX中计算的结果表明,经平板补偿后的检验光路波像差RMS值为0.003λ,可满足TMC主镜的高精度检验要求。对补偿平板的检验方法,以及加工和使用中应当采取的措施也进行了考虑。与常用检验方法相比,本文方法具有容易对平板性能进行检验,成本低、研制周期短等优点。 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22607 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 金光,钟兴,魏秀东. TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法[J]. 光电工程,2010,37(4):83-87. |
| APA | 金光,钟兴,&魏秀东.(2010).TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法.光电工程,37(4),83-87. |
| MLA | 金光,et al."TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法".光电工程 37.4(2010):83-87. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| TMC系统主镜的平板补偿自准检验方法.k（866KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [金光]的文章 |
| [钟兴]的文章 |
| [魏秀东]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [金光]的文章 |
| [钟兴]的文章 |
| [魏秀东]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [金光]的文章 |
| [钟兴]的文章 |
| [魏秀东]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论