Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 一种凹面光栅效率测试仪的光路结构 | |
| 巴音贺希格; 寇婕婷; 吴娜; 唐玉国; 齐向东; 于宏柱; 朱文煜 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2014-03-12 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构，属于光谱技术领域中涉及的一种凹面光栅衍射效率测试仪。要解决的技术问题是：提供一种凹面光栅衍射效率测试的光路结构。解决技术问题的技术方案是：包括光源外光路、前置单色仪、测量单色仪和控制器。在前置单色仪的壳体外侧，光源外光路的光经聚光镜反射，在入射狭缝处聚焦并入射到前置单色仪中，出射光线通过光纤传入测量单色仪内，测量单色仪主要由入射光臂、出射光臂、光栅转台和光电倍增管组成，标准凹面反射镜和被测凹面光栅先后放在光栅转台上进行测量，由光电倍增管先后接收标准凹面反射镜的反射光通量和被测凹面光栅的衍射光通量，以此完成凹面光栅的衍射效率测量。该光路结构简单、实用。 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | 201010277331.1 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/39158 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 巴音贺希格,寇婕婷,吴娜,等. 一种凹面光栅效率测试仪的光路结构. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 201010277331.pdf（0KB） | 开放获取 | CC BY-NC-ND | 浏览 请求全文 | |||
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